InGaAs线阵扫描相机C15333-10E

产品简介:


SWIR(短波红外)成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂质等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。

SWIR成像方式集成到产线中需要高行频,高灵敏度的相机,针对这些应用,滨松推出了新型InGaAs线阵扫描相机C15333-10E

产品特性

● SWIR高灵敏度,950 nm-1700 nm

大视场高分辨率,1024像素线阵

高行频输出,最大线路速率:40 kHz

紧凑轻巧的设计:49 × 49 mm × 100 mm

小巧轻便,重量约250

高质量的图像以及优秀的矫正功能

● GigE Vision接口

主要应用

食品和农产品(损坏检查,质量筛选,材料歧视等)

半导体(硅晶片图案检查,EL / PL的太阳能电池检查等)

工业(水分,泄漏检测,容器检查等)

 

参数指标

参数

指标

型号

C15333-10E

成像设备

InGaAs line sensor

有效像元数

1024H×1V

像元尺寸

12.5μm×12.5μm

有效面积

12.8mmH×0.0125mmV

满阱容量

Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons                               Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons

读出速度

Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync

readout: 40 kHz

曝光时间

21 μs to 1 s (1 μs step)

外部触发输入

Sync readout

图像处理功能

Background subtraction, Real time shading correction

接口

Gigabit Ethernet

A/D转换器

14 bit

镜头卡口

C Mount

供电

DC 12V

量子效率

above 60 % (1100 nm 1600 nm)

功耗

6W max

 


主要特点:

主要应用:

参数指标